LCR測(cè)試儀ZM2376介紹：

 LCR測(cè)試儀ZM2376測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域，實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部件生產(chǎn)線等的各種用途。
ZM2371/ZM2372/ZM2376LCR測(cè)量?jī)x 

測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 
測(cè)量?jī)xZM系列 

實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 
件生產(chǎn)線等的各種用途 

產(chǎn)品陣容& 特性??功能比較 

ZM2371
基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 快2ms


ZM2372
基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～100kHz , 測(cè)量速度 快2ms，
4端子的接觸檢查功能，處理機(jī)接口
ZM2376
基本精度 0.08％，頻率范圍 1mHz～5.5MHz , 測(cè)量速度 快2ms，
接觸檢查、低容量檢查
測(cè)量范圍覆蓋從1mHz低頻領(lǐng)域到5.5Hz高頻領(lǐng)域的NF LCR 測(cè)量?jī)xZM系列
實(shí)現(xiàn)了快速且偏差小的穩(wěn)定測(cè)量，可對(duì)應(yīng)從材料研究到零部 件生產(chǎn)線等的各種用途

日本NF LCR測(cè)試儀ZM系列偏差小的高再現(xiàn)性 測(cè)量示例

按照以下條件使用ZM2372和ZM2376，對(duì)1nF的電容反復(fù)測(cè)量200次后得到的結(jié)果。
使用ZM2376，測(cè)量的再現(xiàn)性得到了進(jìn)一步提高。

 LCR測(cè)試儀ZM2376技術(shù)參數(shù)：